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ZEISS METROTOM
发表于2020/3/3 15:04:08
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用于质量保证的三维 X 射线测量技术
ZEISS METROTOM
基于蔡司METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）
利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次 X 射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精确性的高要求。
第三代新款蔡司METROTOM 1500
面向未来的质量控制——今天
十二年来，蔡司METROTOM系列一直为质量控制提供可靠的CT技术。第三代计算机断层扫描（CT）系统蔡司METROTOM 1500极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天，您可以使用面向未来的质量控制。
蔡司METROTOM 1500（第2代与第3代）中铝制部件的图像比较。由于体素尺寸较小，新的3K检测器可以以更高分辨率清晰显示更小的细节。
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在第三代系统中，新的3k检测器可生成更高分辨率的3D体数据集，即更多体素可以检测到更小的缺陷。
蔡司METROTOM 1500（第2代与第3代）中铝制部件的图像比较。由于体素尺寸较小，新的3K检测器可以以更高分辨率清晰显示更小的细节。
扫描更快
通过检测器的不同操作模式，扫描时间可减少多达75％，同时获得与2k检测器相当的体素尺寸。
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