原标题:高导热镁合金滤波器壳体压铸工艺、组织与性能研究 摘要 以Mg-4La-2Al-0.3Mn(LA42)合金为研究对象,利用OM、XCT、数值模拟等方法,对比AZ91D常规压铸工艺,优化出适用于LA42合金滤波器壳体的压铸工艺。研究表明,滤波器壳体的最优压铸工艺是浇注温度720 ℃、模具温度250 ℃、增压压力90 MPa。该工艺下成形的滤波器壳体,其背部与散热齿的显微组织与性能相差较大。壳体背部冷却速率慢,晶粒尺寸大,伴随大量预结晶组织,而散热齿冷却速率快,晶粒尺寸细小,伴随冷隔和孔洞缺陷。散热齿热导率[107.7 W/(m·K)]低于壳体背部热导率[112.3 W/(m·K)]。散热齿屈服强度(170.1 MPa),远高于壳体背部屈服强度(138.4 MPa)。但散热齿区域因为含有明显冷隔和孔洞缺陷,显著影响伸长率。 传统的压铸镁合金AZ91D有出色的铸造性能(流动性、抗热裂性等),广泛应用于电子通讯领域。但随着设备集成度的提高,体积缩小,设备功耗增加,AZ91D合金由于含有大量固溶原子造成电子运输过程中散射,导致其热导率仅有51 W/(m·K),无法满足设备的散热需求。针对此问题,作者团队曾开发了适用于压铸的高导热镁合金LA42(Mg-4La-2Al-0.3Mn,wt.%),其热导率可达110 W/(m·K),压铸试验拉伸棒屈服强度140 MPa,抗拉强度240 MPa,伸长率12%。但实际应用过程中,产品大多数具有结构复杂、尺寸大、壁厚不均匀、壁薄等特征,对合金的压铸充填能力要求更为苛刻,压铸充填过程的效果最终影响压铸件质量。 滤波器作为通讯基站射频的核心器件,为了保证它的高效运行,其中滤波器壳体散热问题亟待解决,迫切需要导热性能优异的滤波器壳体材料。如图1所示,滤波器壳体的尺寸高达456 mm×301 mm×76 mm,散热齿最薄处仅有1 mm。LA42合金铸造性能比AZ91D合金略差,采用常规压铸工艺生产滤波器壳体无法获得质量优良的零部件。本工作通过压铸工艺数值模拟优化,获得适用于大型薄壁LA42合金滤波器壳体的压铸工艺,并对铸件本体显微组织与性能进行分析,以探讨LA42镁合金在滤波器壳体上推广应用的可行性。
图1 滤波器壳体压铸件 1 试验材料与设备 试验材料为LA42合金,并用商用AZ91D合金作对照试验。通过ICP-OES测定LA42和AZ91D合金化学成分,结果见表1。滤波器散热壳体采用压铸机Bulher SC140L压铸而成,采用的压室长度为760 mm,冷却时间15 s。在智铸超云平台(Supreium®)通过压铸过程数值模拟对压铸工艺参数进行优化选择,具体压铸工艺见表2。最终采用XCT对LA42和AZ91D压铸件孔隙率、热裂纹及缺陷分布进行对比评价,以评估LA42合金的成形能力。
表1 LA42和AZ91D合金化学成分 wB/%
表2 本试验所采用的压铸工艺参数 在压铸件本体切取直径12.7 mm的圆片,切取标距段为15 mm×3.5 mm的板状拉伸片,分别在散热齿和壳体背部切取对应试样。具体取样位置如图2所示。采用LFA467激光导热仪测量室温热扩散系数α,使用密度计(Sartorius Quintix124-1CN)对样品的室温密度ρ进行测试,比热容依据Neumann-Kopp定律来计算。
式中:Cp,i(T)为合金中各元素的定压比热容,xi为该元素在合金中的质量分数。
图2 热导率圆片试样和拉伸试样取样位置 本文中将用到的各元素的比热容随温度变化如下:
最终试样的热导率可以由式(6)获得: 在MTS拉伸试验机上以0.5 mm/min的拉伸速率对上述拉伸片进行室温拉伸试验。对试样进行机械研磨、抛光和用镁合金专用蚀刻剂(4 mL硝酸和96 mL乙醇)腐蚀5 s后,采用蔡司光学显微镜AXIO SCOPE 5进行显微组织观察。采用搭载EDS的扫描电子显微镜拍摄背散射(BSE)照片,在至少十个基体区域用EDS点扫描模式测量固溶原子浓度。 2 试验结果与分析 2.1 充型过程数值模拟与典型缺陷分布情况 根据材料的热物性数据,采用压室充填模式计算压铸充填过程,辅助压铸工艺设计。图3所示为不同压铸工艺参数下的LA42合金在同一慢压射充型时刻(2.88 s)数值模拟结果。观察压室内熔体充填情况,发现工艺A与AZ91D工艺相同,浇注温度680 ℃,模具温度180 ℃,该条件下LA42合金充填平稳,但由于LA42合金凝固区间大约在630~580 ℃,远高于AZ91D的凝固区间(595~437 ℃),贴近压室内壁的多数熔体温度已经低于液相线温度,α-Mg已经开始形核凝固(图3工艺A箭头所指位置),粘度增大,流动性降低,并容易产生预结晶组织,从而造成枝晶间隙补缩不足产生缩松,并显著影响塑性。
图3 不同压铸工艺参数下的LA42合金在同一慢压射充型时刻(2.88 s)数值模拟结果 因此,需要提高浇注温度和模具温度,改善LA42合金充型和补缩能力。工艺B和C在工艺A基础上将浇注温度提高至720 ℃,模具温度提高至250 ℃,压室截面熔体温度分布情况有很大改善,均在液相线温度以上。工艺D在工艺C的基础上将浇注温度进一步提高至760 ℃,熔体产生过热,慢压射阶段就出现飞溅(如图3D红色框)。因此,浇注温度选择应控制在720 ℃。 如图4所示为不同压铸工艺参数下卷气压力分布数值模拟结果,从图中可看出,工艺B相比工艺A的卷气压力并未出现显著改善,并分布在相同区域(如图4B红色框),这是因为该位置处于两股熔体交汇的区域,且是铸件壁最薄的部位。熔体在此交汇且界面前沿无法排气时,该区域就容易造成卷气,产生气孔。图5液流追踪结果也验证了上述结论,在黑色方框内容易出现液流交汇和卷气。因此,在工艺B的基础上需要进一步提升增压压力至90 MPa(工艺C),发现卷气压力有所降低,而进一步提升浇注温度(工艺D),卷气压力进一步增大,这是因为温度过高,容易与氢反应产生气泡卷入至熔体中。根据以上结果,浇注温度在720 ℃,增压压力90 MPa的工艺C是最优选择。
图4 不同压铸工艺下的卷气压力数值模拟结果
图5 工艺B的液流追踪数值模拟结果 如图6所示为不同压铸工艺下缩松缩孔的数值模拟结果,由图可见,从工艺A至工艺B,提高浇注温度,缩孔缩松倾向性显著降低,再从工艺B改进至工艺C,提高增压压力,缩孔缩松倾向性进一步降低。而工艺C到工艺D,浇注温度进一步提高至760 ℃,熔体发生过热,不同温度凝固到相同体积时,凝固收缩越大,越容易产生缩孔缩松,所以到工艺D,缩孔缩松倾向性反而又提高了。缩松缩孔的数值模拟结果验证了工艺C的合理性。
图6 不同压铸工艺下的缩松缩孔数值模拟结果 2.2 压铸件表面质量对比与 XCT 缺陷分析 采用工艺C试制滤波器散热壳体,LA42合金与AZ91D合金压铸样件如图7所示,对比发现,AZ91D合金样件表面质量优良,近内浇道和远内浇道的薄壁散热齿均充填良好。LA42合金样件充填基本完整,但表面可见流痕,局部存在未充满的冷隔缺陷,这归因于LA42合金粘度高,导致其容易粘连模具。
图7 LA42与AZ91D合金滤波器壳体铸件表面质量照片 通过XCT进一步探究铸件内部质量,结果如图8所示。XCT扫描分辨率136 μm,在该分辨率下,LA42合金铸件孔隙率为0.03%,AZ91D合金铸件孔隙率为0.02%,二者基本持平,孔洞出现位置基本与工艺C的数值模拟结果一致。两种合金的压铸件孔洞缺陷均易分布在液流交汇处(图8中红色框)和远内浇道端壁厚区域(图8中蓝色框)。LA42合金铸件内部除了存在少量孔洞缺陷外,并未发现明显的热裂纹。这是因为即使LA42合金流动性比AZ91D差,但是其凝固区间窄,共晶反应温度高,较高温度下就可以对最终凝固区域进行补缩,所以热裂倾向性较低。说明除了LA42压铸件表面有粘模现象外,在该工艺下,压铸件内部未出现大量尺寸大于100 μm的孔洞,LA42合金适合大型复杂薄壁件的充填。可进一步采用高真空压铸减少内部气孔,修改模具油路以增大散热齿模具表面温度,从而改善铸件质量。
图8 通过XCT得到的LA42与AZ91D镁合金滤波器壳体铸件的三维缺陷分布结果 2.3 滤波器壳体显微组织、热导率与力学性能分析 图9a和图9b分别为LA42合金壳体背部靠近模具表面和型腔中心的金相组织。图9c和图9d分别为LA42合金壳体散热齿靠近模具表面和型腔中心的金相组织。由图可见,与图9c和图9d对比,图9a和图9b显示的晶粒更粗大,且含有大量预结晶组织。壳体背部在靠近模具表面处没有明显缺陷(图9a),而散热齿靠近模具表面处含有少许冷隔裂纹(图9c),这说明散热齿冷速相比壳体背面更快,形核率高,晶粒细小,多股金属液在散热齿来不及融合到一起就已经凝固。散热齿靠近型腔中心处还伴随着大量细小孔洞缺陷(图9d),而壳体背部靠近型腔中心处几乎观察不到孔洞缺陷(图9b)。如图10所示为采用工艺C得到的LA42滤波器壳体凝固温度场数值模拟结果,验证了上述观点。
图9 LA42合金滤波器壳体金相组织
图10 LA42合金滤波器壳体凝固温度场数值模拟结果 表3为LA42滤波器壳体各个区域的热导率和力学性能,图11为对应的拉伸曲线。对比发现,散热齿区域热导率低于壳体背部热导率。图12和表4为散热齿区域和壳体背部区域的背散射照片以及固溶原子浓度对比。散热齿区域固溶原子浓度高于壳体背部的固溶原子浓度,这归因于散热齿区域冷却速率更快,固溶原子来不及扩散而固溶在基体内,固溶原子扰乱了Mg晶格的周期性排列,是影响热导率的主要因素。与此同时,散热齿区域高固溶度和更细小的晶粒尺寸,贡献了更高的固溶强化和晶界强化效果,因此屈服强度也显著高于壳体背部区域。然而散热齿区域伸长率和抗拉强度显著低于壳体背部,这归因于散热齿区域的冷隔和孔洞缺陷,也与图9c和图9d组织照片对应。这也侧面反应,相比预结晶组织,冷隔和孔洞缺陷对伸长率的影响更为突出。
表3 LA42合金滤波器壳体不同部位热导率和力学性能
图11 滤波器壳体不同部位LA42合金试样拉伸曲线
表4 滤波器壳体不同区域固溶原子浓度
图12 LA42合金滤波器壳体不同部位背散射照片 3 结论 (1)数值模拟结果显示LA42合金滤波器壳体的最优压铸工艺是浇注温度720 ℃,模具温度250 ℃,增压压力90 MPa,采用该工艺能顺利成形滤波器壳体铸件。 (2)LA42合金滤波器壳体背部和散热齿区域组织和性能相差较大。散热齿区域由于高冷却速率,晶粒细小,且含有大量固溶原子,因此热导率低[107.7 W/(m·K)],屈服强度高(170.1 MPa),但是也伴随着冷隔和孔洞缺陷而显著降低伸长率。相反,壳体背部热导率高[112.3 W/(m·K)],屈服强度低(138.4 MPa)。
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